1. BET: hauptsächlich zur Prüfung der spezifischen Oberfläche von Materialien verwendet, die Informationen über die spezifische Oberfläche von Materialien liefern kann.

2. CV: Die CV-Kurve kann getestet werden, um viele Informationen zu erhalten, wie z. B. die erforderliche Elektrodepositionspannung, Strom, und die Halbleiterindustrie kann Gleichspannungsverzerrungsspannung erhalten.

3. EIS: EIS ist ein elektrochemischer Impedanzspektroskopieversuch, der Elektrodenpotenzial und Impedanzinformationen erfassen kann und so den internen Serienwiderstand, den Parallelwiderstand,und Kapazitätsbezogene Informationen des Systems.

4. FTIR: hauptsächlich zur Prüfung von polymeren organischen Materialien, zur Bestimmung des Vorhandenseins verschiedener Polymerbindungen und zur Bestimmung der Struktur des Materials verwendet.

5. Raman: wird zur Bestimmung der Struktur von Materialien durch Messung der Rotationsenergie und der Schwingungsenergie verwendet.

6. SEM: Oberflächenmorphologie und morphologische Eigenschaften von Materialien.

7. TEM: Oberflächenmorphologie und Kristallinität des Materials. Durch die Zusammenarbeit mit EDX kann die Elementarsammensetzung des Materials ermittelt werden.

8. XRD: prüft hauptsächlich die physikalischen Eigenschaften und die Kristallstruktur von Materialien.

9Massenspektrometrie: hauptsächlich zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung von Materialien, einschließlich der Massenspektrometrie in flüssiger Phase und der meteorologischen Massenspektrometrie.